推薦產(chǎn)品
你的位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 粒度測量方案 > 納米粒度儀
產(chǎn)品展示-
- 90Plus PALSZeta電位及粒度分析儀
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前*能夠測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術,比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍!
- 型號:90Plus PALS
- 更新日期:2024-06-14 ¥面議
-
- OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°,173°、90三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測量。
- 型號:OMNI
- 更新日期:2024-06-14 ¥面議
共 2 條記錄,當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁